质量
纳微半导体采用了基于应用的可靠性设计、以设计为导向的方法，以确保我们的GaNFast产品的质量和可靠性始终超越客户的期望。
Anthony Schiro, 质量副总裁
质量表现
功率芯片出货数量
器件市场运行时间（单位：十亿小时）
市场失效
每百万个产品的市场不良率
失效率（每10亿器件小时运行时间的失效器件数目）
等效器件测试时间（单位：十亿小时）
备注
在每个月初，对质量和生产数据（真实实际）进行更新，然后出货数据将根据对生产库存的估计进行更新。
- GaNFast 功率芯片的出货量：仅指生产材料。
- 器件市场运行时间：假定转运、配送和客户组装时间为3个月。
- Field PPM 故障率：每百万故障率 ( 市场失效数量 / 百万出货产品数额)
- FIT(Failure in Time) 失效率(单位：10亿小时）：每10亿小时的器件运行时间内的产品失效率 (可靠性测试失效数量/ 10亿小时的器件测试时间)
- 等效器件测试时间：总的器件测试时间×可靠性加速因子
质量&相关技术&白皮书
氮化镓功率芯片的可靠性系统研究
基于应用环境的可靠性测试
2017 年 JEDEC JC-70.1氮化镓创始成员
报告&合格证书
